TIPS(透射电镜样品制备)和NIPS(纳米粒子成像系统)是两种不同的用于材料表征的技术。
TIPS是一种用于制备透射电子显微镜(TEM)样品的技术,它涉及将材料切割成极薄的切片,以便能够观察其微观结构和组织。
NIPS则是一种专门的成像技术,用于捕捉纳米粒子在液体中的动态行为,它能够记录和分析纳米粒子的运动轨迹和相互作用。
一句话描述它们的区别可以是:TIPS侧重于制备适合透射电镜观察的超薄切片,而NIPS专注于实时监测纳米粒子在流体中的动态行为。
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