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基于弱电子束高分辨成像技术卤素钙钛矿薄膜缺陷及器件界面研究

发布于 2024-05-22 16:26:57

"基于弱电子束高分辨成像技术卤素钙钛矿薄膜缺陷及器件界面研究"是一个涉及材料科学、电子显微镜学和光电材料领域的研究课题。这种研究可能包括以下几个主要方面：

  1. 应用强电子束下的材料损伤问题：强有力的电子束在进行高分辨率成像时可能会对材料产生损伤，特别是对于那些易破坏的
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