假定某晶片生产过程检测发现晶片的 DPU=1,缺陷的出现是完全随机的且服从泊松分布，则随机抽取一片晶片，该晶片没有缺陷的概率近似为：

发布于 2022-04-09 01:03:17

【单选题】
A 0.5
B 0
C 0.37
D 0.1

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Frank 2022-04-09

这家伙很懒，什么也没写！

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