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测量介质损耗因数,通常能发现的设备绝缘缺陷是()。(高电压原理)
发布于 2021-05-03 13:52:45
【多选题】
A 整体受潮
B 整体劣化
C 小体积试品的局部缺陷
D 大体积试品的局部缺陷
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🐬旭洋
2021-05-03
这家伙很懒,什么也没写!
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谦陌
这家伙很懒,什么也没写!
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