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上岗-判断
双探头法检测,对于与波束轴线垂直的面状缺陷和立体型缺陷的检出效果最好;与波束轴线平行的面状缺陷难以检出
发布于 2021-04-20 15:47:06
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RENO
2023-04-20
这家伙很懒,什么也没写!
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