纵波直射法探测平板形试件时,如果仪器工作条件和耦合状态良好,试件材质衰减很小,但探伤图形中既无缺陷波,又无底波,这是由于试件中存在与探测垂直的大缺陷。 ( × )

发布于 2021-02-11 11:18:06
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