17 单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为:( )

发布于 2021-02-17 06:27:20
【单选题】
A 近场干扰
B 材质衰减
C 盲区
D 折射

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