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单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：

发布于 2021-02-17 02:16:00

【单选题】
A 近场干扰
B 材质衰减
C 盲区
D 折射

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姚建龙 2023-02-17

这家伙很懒，什么也没写！

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