背散射电子(Backscattered Electrons,简称BSE)是指在扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscopy,SEM)中,入射到样品表面的初级电子与样品原子的核外电子发生弹性碰撞后,被反弹回来的电子。这些电子保留了大部分原始能量,因此被称为背散射电子。
背散射电子的产生和特性如下:
产生机制:当入射电子与样品原子的核相互作用时,如果能量转移较小,电子可以几乎不损失能量地反弹回来,形成背散射电子。
能量保持:背散射电子的能量通常接近或等于入射电子的能量,因此它们的能量较高。
产额与原子序数的关系:背散射电子的产额与样品原子序数的Z的平方成正比,这意味着重元素会产生更多的背散射电子。
表面敏感性:背散射电子主要来自于样品表面的几纳米到几微米的深度范围内,因此对表面特征非常敏感。
空间分辨率:由于背散射电子的产生区域较小,它们可以提供较高的空间分辨率。
图像对比度:在BSE成像中,不同原子序数的材料在图像上会显示出不同的亮度,从而形成高对比度的图像。
应用广泛:背散射电子成像是材料科学、地质学、生物学等领域研究中常用的技术,可以用来观察样品的表面形态和成分分布。
探测器设计:为了检测背散射电子,SEM通常配备有特殊的背散射电子探测器,这些探测器可以收集从样品表面反弹回来的高能电子。
信号强度:背散射电子信号的强度通常比二次电子信号强,这有助于提高图像的信噪比。
与样品相互作用:背散射电子与样品的相互作用包括弹性散射和非弹性散射,但以弹性散射为主。
背散射电子技术是SEM分析中的一个重要组成部分,它为研究材料的微观结构和化学成分提供了一种有力的手段。